测量原理：
干涉后的红外光以全反射的角度(例如45度)入射ATR晶体，红外光在晶体表面形成一个衰减式的红外波，被紧密覆盖在晶体表面的样品吸收后，检测器采集反射部分的红外光的强度，这种测量方式称为衰减全反射测量，即ATR测量。
中红外ATR通常选择的晶体材料有金刚石(Diamond)、硒化锌(ZnSe)、锗晶体(Ge)、硅晶体(Si)等，因此测量范围因材料选择而有所不同。
ATR满足不同的应用场景，荧飒光学可以提供单次测量或多次测量附件。
分析对象：
固体表面、粉末、薄膜、聚合物、沥青、胶状物、油漆等透射难以测量的样品、非破坏测量。
适合机型：
便携式红外光谱仪，
体积紧凑，
既可户外使用，
也可实验室使用；
FOLI10
台式红外光谱仪，
单样品腔设计，
既可透射测量，
也可安装ATR等研究型附件；
FOLI10-R
台式红外光谱仪，
双样品腔设计，
透射测量与其他测量方式互不干扰，
切换方便；
FOLI10-R-S
便携箱一体化红外光谱仪，
集成度高，
操作方便；
MOBILE10
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